服務熱線：15766191432產品到哪里，服務到哪里 !
products category
更新時間：2024-04-13 
瀏覽次數：364監測控制生產過程中移動薄膜厚度。高達100 Hz的采樣率可以在多個測量位置得到
F30 光譜反射率系統能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數 (n 和 k 值) 和半導體以及
電介質層的均勻性。
分子束外延和金屬有機化學氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的，或輕度吸收的薄膜。 這實
際上包括從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料。
極大地提高生產力
低成本 —幾個月就能收回成本
A精確 — 測量精度高于 ±1%
快速 — 幾秒鐘完成測量
非侵入式 — 完的全的沉積室以外進行測試
易于使用 — 直觀的 Windows™ 軟件
幾分鐘就能準備好的系統
型號 | 厚度范圍* | 波長范圍 |
|---|---|---|
| F30 | 15nm-70µm | 380-1050nm |
| F30-EXR | 15nm - 250µm | 380-1700nm |
| F30-NIR | 100nm - 250µm | 950-1700nm |
| F30-UV | 3nm-40µm | 190-1100nm |
| F30-UVX | 3nm - 250µm | 190-1700nm |
| F30-XT | 0.2µm - 450µm | 1440-1690nm |
掃一掃
您的位置：
在線咨詢
返回頂部